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国产化光斑分析仪系统搭建 维度光电 深圳市维度科技股份供应

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所在地: 广东省
***更新: 2025-04-26 01:24:03
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  • 深圳市维度科技股份有限公司
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产品详细说明

维度光电-BeamHere光斑分析仪通过测量光束质量参数,为激光技术在多领域的高效应用提供支撑。工业加工中,其亚微米级光斑校准能力帮助优化切割、焊接与打标工艺,确保光束轮廓一致性,保障加工质量。医疗领域用于眼科准分子激光手术设备校准,实时监测光束能量分布,确保手术安全性。科研场景中支持皮秒级脉冲激光测量,为物理与材料提供高精度数据,推动新型激光器件。光通信领域可实现光纤端面光斑形态分析,保障光信号传输稳定性。农业与生命中,通过分析激光诱变育种光束参数,优化植物生长调控效率。全系产品覆盖200-2600nm宽光谱,支持千万级功率测量,结合M²因子测试模块与AI分析软件,为各行业提供从光斑形态到传播特性的全链路检测方案,助力客户提升产品性能与生产效率。光斑分析仪保修期多长?维度光电整机 3 年质保,部件 5 年延保。国产化光斑分析仪系统搭建

国产化光斑分析仪系统搭建,光斑分析仪

针对光通信领域,Dimension-Labs 提供多芯光斑同步检测方案:扫描狭缝式设备支持单芯 2.5μm 光斑检测,结合 Fast Check MT 检测仪实现 12 芯并行测试;相机式系统实现全端面成像分析,可检测连接器端面倾斜度误差小于 0.5°。在医疗激光领域,其 0.1μm 分辨率可捕捉光斑畸变,配合闭环反馈系统实时调整激光参数,结合 M² 因子模块优化光束准直度,使激光聚焦精度达 ±2μm。工业加工场景中,千万级功率测量能力与 ISO 标准参数输出,帮助企业将激光切割热影响区缩小 30%,提升加工精度达 ±5μm。光斑分析仪操作国产光斑分析仪厂家有哪些?维度光电深耕18年。

国产化光斑分析仪系统搭建,光斑分析仪

Dimension-Labs 维度光电相机式与狭缝式光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率等级、脉冲特性及形态复杂度。相机式基于面阵传感器成像,可测大10mm 光斑(受限于 sensor 尺寸),小光斑为 55μm(10 倍 5.5μm 像元),结合 6 片衰减片(BeamHere 标配)实现 1W 功率测量,适合大光斑、脉冲激光(触发模式同步捕获单脉冲)及非高斯光束(如贝塞尔光束)检测,通过面阵实时反馈保留复杂形态细节。狭缝式采用正交狭缝扫描,刀口模式可测小 2.5μm 光斑,创新狭缝物理衰减机制允许直接测量近 10W 高功率激光,适合亚微米光斑、高功率及高斯光斑检测,但需严格匹配扫描频率与激光重频以避免脉冲丢失,且复杂光斑会因狭缝累加导致能量分布失真。维度光电 BeamHere 系列提供双技术方案,用户可根据光斑尺寸(亚微米选狭缝,大光斑选相机)、功率等级(高功率选狭缝,微瓦级选相机)及光斑类型(复杂形态选相机,高斯光斑选狭缝)灵活选择,实现光斑检测全场景覆盖。

维度光电-光斑分析仪的使用 科研场景 将 BeamHere 安装在飞秒激光实验平台,使用触发模式同步采集单脉冲光斑。 通过软件 "时间序列分析" 功能,观察脉冲序列中光斑形态变化。 调用 "光束质量评估" 模块,计算啁啾脉冲的 M² 因子演变曲线。 在 "用户自定义" 界面添加波长、脉宽等实验参数,生成带批注的报告。 工业场景 在激光切割设备光路中插入 BeamHere,选择 "在线监测" 模式。 实时显示光斑椭圆率、能量分布均匀性等参数。 当检测到光斑漂移超过阈值时,软件自动触发警报并记录异常数据。 每日生成生产质量报表,统计良品率与设备稳定性趋势。微弱信号光斑如何检测?维度光电动态范围增强算法,突破探测器极限,同步清晰成像。

国产化光斑分析仪系统搭建,光斑分析仪

相机式与狭缝式光斑分析仪对比指南 光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率、脉冲特性及形态复杂度: 光斑尺寸 ≤55μm → 狭缝式(2.5μm 精度) ≥55μm → 相机式(10mm 量程) 激光功率 ≥1W → 狭缝式(直接测量近 10W) ≤1W → 相机式(6 片衰减片适配) 光斑形态 高斯 / 规则 → 两者均可(狭缝式更经济) 非高斯 / 高阶横模 → 相机式(保留细节) 脉冲特性 需单脉冲分析 → 相机式(触发同步) 连续或匹配重频 → 狭缝式(高精度扫描) 推荐组合: 场景:相机式 + 狭缝式组合,覆盖全尺寸与复杂形态 工业产线:狭缝式(高功率)+ 相机式(动态监测) 医疗设备:相机式(脉冲激光)+M² 模块(光束质量评估) 维度光电 BeamHere 系列提供模块化解决方案,支持快速切换检测模式,帮助用户降**设备购置成本与检测周期。光斑分析仪与M²测试模块组合,实现对光束传播方向的发散角、M²因子、聚焦直径等测量。Dimension光斑分析仪系统搭建

近场光斑测试方案,推进半导体,硅光行业优化升级。国产化光斑分析仪系统搭建

如何使用光斑分析仪 Step 1 准备设备 将 BeamHere 光斑分析仪固定在光具座上,调整高度使激光束中心与 sensor 靶面重合。用 Type-C 线连接分析仪与电脑,打开 BeamHere 软件等待设备识别。 Step 2 采集数据 开启激光器预热 10 分钟,点击软件 "开始采集" 按钮。实时观察 2D 成像界面,确保光斑无过曝或欠曝,可通过转轮调节衰减片至合适状态。 Step 3 分析参数 在 "高级分析" 模块勾选所需参数,软件自动计算光斑尺寸(±0.5μm 精度)、能量均匀性(CV 值)及光束质量因子。3D 视图支持手势缩放,便于观察高阶横模分布。 Step 4 验证结果 切换至 "历史记录" 对比多次测量数据,使用 "统计分析" 功能生成标准差曲线。若发现异常,可调用 "单点测量" 工具检查特定位置能量值。 Step 5 导出报告 在 "报告模板" 中选择 "科研版" 或 "工业版",自动生成带水印的 PDF 报告,包含光斑图像、参数表格、趋势图表及 QC 判定结果。国产化光斑分析仪系统搭建

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